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高加速应力试验箱-湿热加速箱 HAST 试验能够在短时间内模拟产物长时间使用后的状态，快速地使产物老化，加速激发产物潜在的缺陷和故障，从而有效筛选出早期失效的产物，让制造商能在产物研发和生产阶段尽早发现问题，如电子元器件的封装缺陷、材料的不耐湿热特性等，以便提前采取措施加以改进，提高产物的可靠性

HAST加速老化试验箱 电子元器件：如集成电路、半导体元件、电容器、电阻器等，通过 HAST 试验可以评估其在高温高湿及压力条件下的密封性能、防潮性能以及老化性能，快速暴露潜在的可靠性问题，如封装不良、材料老化等，确保其在实际使用中的稳定性和可靠性

非饱和型高压加速寿命试验箱 综合失效分析 非饱和型高压加速寿命试验箱（HAST）是一种通过模拟高温、高压、高湿的非饱和蒸汽环境，加速产物老化并暴露潜在缺陷的可靠性测试设备。其核心价值在于通过综合失效分析，快速识别产物在材料、工艺、设计等环节的薄弱点，广泛应用于半导体、汽车电子、新能源等行业的研发与质量控制环节。

高压加速寿命测试机 hast加速老化试验箱 基于高温、高湿、高压的严苛环境模拟技术，能够以远超自然老化的速度，加速测试各类材料、电子元器件、半导体封装、印刷电路板等产物的老化过程。通过模拟严苛条件下的老化场景，可在短时间内获取产物在长期使用过程中的性能变化数据，帮助公司提前发现潜在质量隐患，大幅缩短产物研发和质量验证周期。

芯片高加速应力试验箱（HAST） HAST非饱和高压加速老化试验箱是使用在加压和温度受控的环境中施加过热蒸汽的非冷凝(不饱和方法)，将外部保护材料、密封剂或外部材料和导体之间通过加速水分渗透的作用进行试验;一般是在设定的温度和湿度条件下连续施加压力来完成的。